產(chǎn)品介紹:
NVM - 系列是用于高端PCB高速自動測量設(shè)備,在IC Substrate應(yīng)用上,測量 Viahole、圖形圖像、形貌等11種功能。
自動對位和自動對焦功能可以實現(xiàn)全自動測量,顯示和保存結(jié)果數(shù)據(jù)在PC上,非接觸方式統(tǒng)計分析大面積高精度3D測量設(shè)備(垂直精度0.5nm)
更換物鏡可改變視場。
適用 HDI PCB/基板等,多條工序的實時監(jiān)控
產(chǎn)品功能:
表面粗糙度(Ra,Rq,Rp,Rv,Rt,Rz)
測量高、寬、直徑
2D測量( Option:GCP底部孔徑)
精確測量專用設(shè)備,功能突出
通過非接觸式,快速精確的測量表面形貌
具有納米分辨率使用光學(xué)干涉法